さて、私たちは皆、多くのドメインにわたって変圧器の広範なアプリケーションがあることを知っています。したがって、オイルテストや機器テストなどを含む変圧器のメンテナンスの概念を深く掘り下げることがより重要です。変圧器の電気的状態全体を分析する溶存ガステストを実行するには、より多くの濃度が必要です。変圧器油はサーキットブレーカ、ケーブル、および スイッチ 、オイルのコンディショニングもテストする必要があります。これは、オイルが誘電特性を増強するため、変圧器内のオイルの状態を知るためにタンデルタテストが使用されるためです。この記事では、タンデルタテストとは何か、その原理、さまざまな方法、およびさまざまなモードについて明確かつ詳細に説明します。
タンデルタテストとは何ですか？
誘電散逸または損失角とも呼ばれるタンデルタまたは 力率 r絶縁油の品質レベルを知るために絶縁油を試験するために実施される試験方法。この種のテスト方法は2つで実行されます 温度レベル 。 2つのテストで得られた結果を比較し、コイルの品質レベルを考慮します。テスト結果が良好な場合、オイルは使用を継続し、テスト結果が期待どおりでない場合は、オイルの交換または交換が行われます。
目的
メイン タンデルタテストの目的 変圧器の安全で信頼できる機能を維持することを確実にすることです。誘電正接の計算と 静電容量値 、それはの結果を提供します 絶縁 ブッシングと巻線の動作も。
静電容量値の変動は、たとえば、ブッシングの部分的な種類の故障や巻線の自動移動を示します。断熱材の剥奪、機器の老朽化、エネルギーレベルの向上は熱に変換されます。これらの損失量は、誘電正接として計算されます。
タンデルタテスト方法を使用すると、必要な周波数レベルでの誘電正接と静電容量の値を簡単に知ることができます。したがって、あらゆる種類の老化要因を早期に特定し、対応するアクションを実装できます。
タンデルタテストの原理
純粋な絶縁体がアースとラインの間に接続されている場合、それはコンデンサのように機能します。理想的な種類の絶縁体では、絶縁物質は完全に純粋な誘電体として機能するため、材料を流れる電流は容量性材料のみを保持します。絶縁コンポーネントのように、ラインから絶縁体を介してアースに流れる電流に対する抵抗素子はなく、不純物は存在しません。ザ・ タンデルタテスト回路図 次のように表示されます。
タンデルタテスト回路
純粋な容量性材料では、容量性電流は電圧レベルより90だけ先行します。0。一般的に、絶縁材料は完全に純粋であり、コンポーネントの経年劣化特性にもかかわらず、湿気や汚れなどの汚染が追加される可能性があります。これらの汚染は、電流の導電経路を作成します。その結果、絶縁体を介してラインからアースに流れる漏れ電流が保持されます 抵抗素子 。
したがって、高品質の絶縁体の場合、漏れ電流のこの抵抗要素がそれに応じて最小であると主張することは無意味です。他の局面において、絶縁体の挙動は、容量性要素のそれに対する抵抗性要素の比率によって知られ得る。絶縁体の品質を高めるために、この比率はそれに応じて少なくなり、これはtanδまたはtandeltaと呼ばれます。場合によっては、これは誘電正接としても表されます。以下に示すベクトル図で、それを知ることができます。
タンデルタテストベクトル図
ここで、x軸は、漏れ電流Iの抵抗要素であるシステム電圧のレベルを表します。R。漏れ電流のこの容量性要素としてIC90が先行します0、y軸を横切って取得されます。
そして今、全体の漏れ電流はによって与えられます 私L（私C+私R）
そして図から、tanδは （私R/私C）
tanδ=（IR/私C）
タンデルタテストプロセス
以下のプロセスは、 タンデルタテストの方法 ステップバイステップの方法で。
- このテストを実施するケーブル、計器用変圧器、ブッシング、変流器、巻線など、このテストに必要な要件は、最初にシステムから分離する必要があります。
- テスト電圧の最小周波数レベルは、絶縁を分析する機器とともに適用されます。
- 最初に、通常の電圧レベルが適用されます。タンデルタ値がこの電圧レベルで期待どおりである場合、印加電圧レベルは印加電圧の2倍に増加します。
- tan deltaの値は、tandeltaコントローラーによって記録されます。
- タンデルタ計算コンポーネントには、より高い一般的な電圧レベルでのタンデルタ値を比較し、正確な結果を提供する損失角アナライザが接続されています。
テスト手順は非常に最小限の周波数レベルで実行されることに注意する必要があります。
印加電圧レベルが高くなると、絶縁体デバイスの容量性リアクタンスが非常に最小になり、電流の容量性要素が大きくなるため、最小周波数レベルでテストを実行することをお勧めします。抵抗率要素は実質的に一定であるため、印加電圧レベルと絶縁体の導電率値に基づいています。
一方、周波数レベルが高くなると、容量性電流が大きくなり、電流の容量性要素と抵抗性要素の両方のベクトル量の振幅が非常に大きくなります。したがって、タンデルタテストに必要な電力レベルは、許容できないと思われるレベルになります。このため、誘電正接分析の電力制約は非常に最小限に抑えられます 周波数テスト 電圧が必要です。
テスト結果の予測
これらは主に、タンデルタ試験時の絶縁方法の状況を分析するための2つのアプローチが存在します。 1つ目は、過去の試験結果を評価し、経年劣化による絶縁状態の悪化を把握することです。一方、2番目のシナリオは、tanδ値から直接絶縁挙動を検証することです。ここでは、そのtanδテスト値で過去の結果を評価する必要はありません。
絶縁結果が正確である場合、損失係数の値はテスト電圧値全体でほぼ同じです。ただし、絶縁結果が正確でない場合は、電圧レベルが高くなるとtanδ値が増加します。 tanδの増加は、高抵抗電流要素が絶縁で発生することに対応します。これらの結果は、過去にテストされた絶縁体の結果と一致する可能性があり、機器を交換する必要があるかどうかを適切に判断します。
これがその方法です 結果のタンデルタテストをテストする方法 行うことができます。
タンデルタテストのさまざまなモードは何ですか？
タンデルタテストに関しては、力率テストには基本的に3つのモードがあります。それらは
- GSTガード –これは地面への漏れ電流の量を計算します。この方法は、赤または青のリード線からの漏れ電流を排除します。一方、USTでは、接地されたエッジが計算されないため、地面はガードと呼ばれます。 UST方式がデバイスに適用されている場合、現在の測定は青または赤のリード線のみを介して行われます。アース線を流れる電流は自動的にAC電源にバイパスされるため、計算から除外されます。
- USTファッション –これは、機器の接地されていないリード間の絶縁の計算に使用されます。ここでは、分離の個々の部分を分離して、他の断熱材が接続されていない状態で分析する必要があります。
- GSTモード –この最終動作モードでは、両方の漏れ経路がテスト装置によって計算されます。電流、静電容量値、UST、およびGSTガード、ワット単位の損失は、GSTテストパラメーターと等しくする必要があります。これにより、テストの全体的な動作が提供されます。
GSTガードとUSTの合計値がGSTパラメータと等しくない場合、テストセットにクラッシュがあるか、テスト端末が正しく設計されていない可能性があります。
全体として、これはタンデルタテストの詳細な説明です。ここで、この記事では、タンデルタテストとは何か、その原理、目的、方法、およびテスト手法を完全に認識しています。また、LVからアースへのテスト、HVからアースへのテスト、およびLV-HVとは何かについても知ってください。 タンデルタテストの方法論 ？
